Fachtagung TestRig

Die zweitägige Fachtagung TestRig präsentiert den aktuellen Stand der Technik, zukunftsorientierte Entwicklungen und herausragende Fallstudien auf dem Gebiet des Baus und Betriebs von Prüfständen und fördert den persönlichen Erfahrungsaustausch. Die Fachtagung wird durch eine begleitende Ausstellung ergänzt.

Dies sind die Themenschwerpunkte der Fachtagung:

• Multivalent nutzbare Prüfstandslösungen
• Mehrachsige Prüfstände und Prüfstandsregelungen
• Modernisierung von Prüfständen

Am Donnerstga 23. Juni um 14:00 Uhr wird der Geschäftsführer von Gantner Instruments Deutschland Bernhard Gruber einen Vortrag über die Aspekte intelligenter Prüfstanda, Data Acquisition Systeme als Big Data Manager, halten.

Sie können vor Ort teilnehmen oder die Vorträge online verfolgen. Hier können Sie sich dafür anmelden.