Austria | Germany | France | Sweden | India | USA | China | Singapore
Automotive Testing Expo 2020 Indien
Events | 2 Minuten Lesezeit |

Automotive Testing Expo 2020 Indien

Gantner Instruments stellt auf der Automotive Testing Expo 2020 in Chennai, Indien, die nächste Generation von Hochgeschwindigkeits-DatenerfassungssystemenDAQ) für die Prüfung von Elektrofahrzeugen, Batteriemanagementsystemen und Cloud-Computing-Lösungen vor.

Gantner Instruments, weltweit führend in der Entwicklung hochpräziser Mess- und Regelungssysteme, stellt auf der Automotive Testing Expo 2020 in Chennai, Indien, seine neu eingeführten Produkte Q.series X & Gl.bench vor.

Drei wichtige Trends im Prüfwesen, die nicht mehr ignoriert werden können, sind Geschwindigkeit, intelligente Datenverarbeitung und Modularität. Die zu prüfenden Systeme und Strukturen ändern sich schnell, und die Datenerfassungssysteme (DAQ) müssen mit ihnen Schritt halten. Hierfür benötigen Sie ein leistungsfähiges Datenerfassungssystem, das das erforderliche Maß an Flexibilität bietet, um jede Anwendung ernsthaft zu prüfen. Big-Data-Analytik und ein modularer Ansatz für Testaufbauten sind unerlässlich, um Ihre zukünftigen Anforderungen in der Test- und Messwelt zu erfüllen. Mit Gantner Instruments sind Sie für jede Prüfanforderung gerüstet.

Q.series X, die neueste und meistverkaufte DAQ-Produktlinie von Gantner Instruments, wurde um eine Reihe von Hochspannungsisolations- und Leistungsmessmodulen erweitert, um Kunden zu unterstützen, die sich mit der Prüfung von Elektromotoren und Wechselrichtern, der Prüfung von Batterien und Batterieladungen sowie der Prüfung von Mechanik und Vibrationen beschäftigen.

Die Hochspannungsisolationsmodule der Q.series X verfügen über eine galvanische 3-Wege-Isolation von mindestens 1200 VDC und sind für eine Vielzahl von Sensoren mit einer Abtastrate von bis zu 100 kHz geeignet. Mit dem brandneuen Q.boost-Modul, das Spannung und Strom mit einer Abtastrate von bis zu 4 MHz messen kann, können Sie hochgenaue und dynamische Leistungsberechnungen direkt an Wechselrichtern durchführen.

GI.bench ist die neueste Softwareplattform von Gantner, die integrierte hochauflösende Messungen, fortschrittliche Big-Data-Analysen und sicheren Datenzugriff bietet. Sie erleichtert die Konnektivität sowie die Erfassung und Verarbeitung von Daten aus verteilten Messgeräten. Die Plattform kombiniert die bewährten Edge-Überwachungs- und -Regelungssysteme von Gantner, ein adaptives und skalierbares Cloud-Backend, eine umfassende Benutzeroberfläche und Anwendungen mit modernsten APIs.

Der F108 Optical Gage Amplifier lässt sich nahtlos in die Q.series X Datenerfassungsplattform integrieren. Die Modularität und Vielseitigkeit der Q.series X Produktlinie kann jede Ihrer messtechnischen Herausforderungen meistern. Nutzen Sie die GI.bench-Software für eine schnelle und einfache Einrichtung und kombinieren Sie sie mit der GI.cloud für Cloud-Speicher und Fernüberwachung.
Faseroptische Sensoren bieten eine hohe Genauigkeit und eine hohe Auflösung bei der Messung von Dehnung und Temperatur, was für Prüf- und Messanwendungen unter extremen Bedingungen von Vorteil ist, bei denen herkömmliche Sensoren nicht gut funktionieren.

Vorteile von faseroptischen Sensoren

  • Hochspannungsisolierung
  • EM und Strahlung immun
  • Inhärent eigensicher
  • Unempfindlich gegen Blitzeinschläge
  • Kältetauglich und hochtemperaturbeständig

Sind Sie auf der Suche nach einer kompakten, tragbaren und robusten Datenerfassungssysteme für potenziell raue Umgebungen oder nach einem Messsystem mit hoher Dichte, das für bis zu Tausende von Kanälen mit hochpräziser Synchronisation geeignet ist?

Besuchen Sie den Stand 3116, und das Expertenteam von Gantner wird Sie in die richtige Richtung führen.

Sichern Sie sich jetzt Ihren Eintrittsgutschein!

Sparen Sie den Eintrittspreis und erhalten Sie Ihren “Tagespass”, mit dem Sie Zugang zum Messegelände, den Fachforen und der Aktionsfläche haben.

Klicken Sie hier für die Anmeldung!

Kontakt für Termine

Herr Vasudevan T. wird Ihre Fragen gerne beantworten.

Weitere Artikel

NewsProdukte & Services

Integrierte Video- und Datenaufzeichnung – Mehr Kontext und tiefere Analysen mit GI.bench

Bei der Analyse von Messdaten bleiben Zahlen allein oft unvollständig – besonders bei unerwarteten Ereignissen. GI.bench begegnet dieser Herausforderung mit der Integration synchronisierter Videoaufnahmen direkt in Ihre Messdaten. So entsteht ein leistungsstarker visueller Kontext, der die analytische Klarheit erheblich verbessert.

Weiter...
Tips & Trends

Rationalisierung der Datenerfassung am CERN mit Blinky-Lite und Gantner Instruments

Eine sichere und nachvollziehbare Datenerfassung ist in komplexen, groß angelegten wissenschaftlichen Umgebungen wie der Europäischen Organisation für Kernforschung (CERN) unerlässlich. Ein zuverlässiger Fernzugriff ist entscheidend für die Unterstützung der verschiedenen Teammitglieder bei der Einrichtung und dem Betrieb der Datenerfassung (DAQ). In Zusammenarbeit mit dem Blinky-lite-Team haben wir einen Testaufbau implementiert, der diese Herausforderungen in eingeschränkten Umgebungen erfolgreich meistert.

Weiter...
Tipps & Trends

Ein Schritt näher an der Fast-Überschallfahrt mit dem Zug

Südkoreas Hyperloop-Zug erreicht bei jüngsten Tests über 1.000 km/h.

Weiter...
Events

Automotive Testing Expo Novi 2025

Machen Sie sich bereit, Ihre Fahrzeugtests mit Gantner Instruments auf der Automotive Testing Expo Nordamerika 2025 in Novi, Michigan, auf ein neues Level zu heben!“! Besuchen Sie vom 21. bis 23. Oktober den Stand 8060 und erkunden Sie Innovationen, mit denen Sie kürzere Produktentwicklungszyklen, höhere Effizienz und bessere Lebensdauer erreichen können.

Weiter...