Notre partenaire, A&D Technologies, a été choisi par GM pour fournir le système d’automatisation des bancs d’essai dans le laboratoire de pointe de GM pour l’essai des batteries. A&D a choisi les modules de test et de mesure e.series, de Gantner Instruments, pour le système de test des batteries.
Les modules d’acquisition de données et de test et mesure industriels de Gantner ont été sélectionnés par A&D pour offrir la flexibilité, la fiabilité, la précision et la simplicité d’utilisation requises par GM, avec les caractéristiques clés suivantes :
- E/S distribuées de haute précision
- Résolution A/N jusqu’à 24 bits
- Filtrage/conditionnement complet du signal
- Mesures numériques flexibles
- Interface bus de terrain RS485 – Profibus-DP, Modbus-RTU, ASCII
- Isolation galvanique
- Conception robuste pour les environnements industriels
- Stabilité de la température dans la plage de mesure -20°C à +60°C
- Alimentation 10 – 30 VDC
Pour plus d’informations sur cette application, cliquez ici : Note d’application
More articles
Module de mesure haute performance D107 pour les fréquences
Le Q.bloxx D107 est un nouveau module de mesure pour l'acquisition de fréquences et de signaux incrémentaux. Grâce à sa capacité de traitement rapide des signaux avec une vitesse d'horloge de 288 MHz, le nouveau module est adapté à la mesure extrême des vitesses de rotation, ce qui n'était pas possible auparavant dans cette gamme de prix.
Read more...SHMII 2025 : Le suivi structurel en temps réel en point de mire
Gantner Instruments participe à la 13e conférence internationale sur la surveillance de la santé structurelle des infrastructures intelligentes (SHMII), qui se tiendra du 1er au 5 septembre 2025 à Graz, en Autriche.
Read more...Salon des essais et du développement aérospatial 2023
Rejoignez-nous du 19 au 20 septembre 2023 à Toulouse au salon Aerospace Test and Development Show 2023 au stand 332. Inscrivez-vous ici pour obtenir votre carte d'accès gratuite au salon.
Read more...Conférence d’automne de l’IMAPS 2024
Garantir la qualité et la fiabilité en microélectronique : Aperçu de la conférence d'automne 2024 de l'IMAPS
Read more...