Gantner Instruments sera présent pour dialoguer avec la communauté internationale SHM et souligner comment la technologie avancée d’acquisition de données façonne l’avenir de la surveillance structurelle. Des ponts et tunnels aux infrastructures aérospatiales et civiles, nos systèmes évolutifs offrent la précision et la flexibilité exigées par les projets de la prochaine génération.
IWSHM 2025 est une occasion unique d’explorer comment les technologies SHM avancées façonnent l’avenir des infrastructures intelligentes. Rejoignez-nous à Stanford pour dialoguer avec des experts de premier plan et découvrir comment Gantner Instruments stimule l’innovation dans le domaine de la surveillance en temps réel et de la maintenance prédictive.
Pour planifier une réunion avec nos experts pendant l’IWSHM 2025 :
More articles
Rencontrez-nous au Battery Show North America 2025 !
Rendez-nous visite au stand 2441 du 6 au 9 octobre 2025, à Huntington Place, Detroit, MI.
Read more...Atelier collaboratif sur la modélisation des performances photovoltaïques 2025
13-14 mai 2025 | Hotel Albuquerque at Old Town, Albuquerque, NM, USA
Read more...Démonstration de la Q.series à l’European Rotorcraft Forum
Du 5 au 8 septembre, Gantner a participé à la 42e édition du European Rotorcraft Forum. L'événement a eu lieu à Lille, en France.
Read more...Les performances d’EtherCAT combinées à un système d’acquisition de données (DAQ) de pointe : 5 avantages qui vous échappent
Nous avons compilé une liste des 5 avantages les plus significatifs de l'utilisation d'un système d'acquisition de données basé sur EtherCAT. Si vous n'êtes pas encore familiarisé avec EtherCAT, préparez-vous à être éclairé. Si vous faites partie des nombreux ingénieurs qui utilisent EtherCAT dans votre laboratoire d'essais, vous pouvez considérer ceci comme une confirmation de la raison pour laquelle vous faites ce que vous faites - et un excellent moyen de diriger ceux qui pensent encore que l'Ethernet industriel n'est pas adapté aux applications d'essais à haute performance.
Read more...