Austria | Germany | France | Sweden | India | USA | China | Singapore
Intégration facile des plates-formes de produits Gantner Instruments dans NI LabVIEW
Conseils et tendances | < 1 minutes Temps de lecture |

Intégration facile des plates-formes de produits Gantner Instruments dans NI LabVIEW

NI LabVIEW est devenu un environnement de programmation graphique essentiel, largement utilisé dans les domaines de l'ingénierie, de la R&D, du test et de l'automatisation industrielle. Sa flexibilité permet aux ingénieurs d'intégrer et de contrôler rapidement divers matériels de mesure, rationalisant ainsi l'ensemble du processus d'acquisition de données.

Acquisition de données rationalisée avec LabVIEW

Les défis techniques actuels exigent une intégration efficace du matériel et des logiciels, ce qui fait de LabVIEW une plate-forme privilégiée pour les applications de mesure, de test et de contrôle. Sa structure de programmation graphique et intuitive permet de développer rapidement des solutions de mesure personnalisées sans codage extensif ni gestion complexe des pilotes.

Avec LabVIEW, les utilisateurs peuvent

  • Intégrer divers matériels de mesure et capteurs dans un environnement cohérent.
  • Accédez facilement à des flux de données en temps réel et en mémoire tampon.
  • Créez des routines de test automatisées, des tableaux de bord interactifs et des systèmes complets d’enregistrement des données.
  • Bénéficiez d’une installation simple et d’une compatibilité avec de nombreuses plates-formes matérielles.

L’adoption généralisée de LabVIEW est due à sa facilité d’utilisation, à sa documentation complète, à ses exemples intégrés et à ses modèles conviviaux, qui le rendent accessible aux ingénieurs de tous niveaux de compétence.

Pour en savoir plus sur les dernières améliorations spécifiquement conçues pour rationaliser votre expérience d’intégration de LabVIEW, consultez notre récent blog mettant en avant les nouvelles fonctionnalités de GI DAQ Library V2.5.

More articles

Conseils et tendances

Trois étapes vers l’internet des objets (IdO) ou : D’où proviennent les big data analogiques ?

Le passage à la nouvelle ère de l'internet des objets (IoT), de l'industrie 4.0 ou de l'informatique en nuage se fait à un rythme impressionnant et est également irrésistible dans plusieurs applications industrielles. L'industrie, avec son énorme quantité de machines et de composants de taille, de valeur et de fonction diverses, est confrontée à un grand défi : les données de tous ces actifs doivent être collectées et analysées.

Read more...
Conseils et tendancesConseils et tendances

Surveillance des ponts : la pierre angulaire de l’infrastructure durable de demain

Une infrastructure moderne nous permet d'organiser la mobilité de manière plus durable, de transporter des marchandises et des marchandises de manière respectueuse du climat et de profiter des opportunités offertes par la numérisation. S'en passer n'est pas une option.

Read more...
Conseils et tendances

Interface Q.series avec le contrôleur d’essai aérospatial Moog

La quantité de données générées dans le cadre d'un programme d'essais structuraux d'aéronefs ne cesse de croître. La densité des points d'introduction de la charge (actionneurs) et des capteurs (jauges de contrainte, thermocouples, LVDT) sur un article testé augmente progressivement et la validation du modèle nécessite des taux d'échantillonnage de données plus élevés pour capturer plus de détails. Les risques et les coûts liés à la validation et à la certification des aéronefs sont importants, et l'exigence d'une mise en service rapide est élevée. Pour minimiser l'impact de l'adaptation des avions en service, la capacité à générer rapidement des résultats de tests est cruciale pour la réussite d'un programme d'essais.

Read more...
Evénements

Sensor + Test 2022

Bienvenue dans le monde des technologies innovantes de test et de mesure. Du 10 au 12 mai, le salon de la mesure SENSOR + TEST 2022 se tiendra à Nuremberg, en Allemagne. N'hésitez pas à nous rencontrer lors du principal forum mondial de l'industrie des capteurs et des mesures.

Read more...