Austria | Germany | France | Sweden | India | USA | China | Singapore
Intégration facile des plates-formes de produits Gantner Instruments dans NI LabVIEW
Conseils et tendances | < 1 minutes Temps de lecture |

Intégration facile des plates-formes de produits Gantner Instruments dans NI LabVIEW

NI LabVIEW est devenu un environnement de programmation graphique essentiel, largement utilisé dans les domaines de l'ingénierie, de la R&D, du test et de l'automatisation industrielle. Sa flexibilité permet aux ingénieurs d'intégrer et de contrôler rapidement divers matériels de mesure, rationalisant ainsi l'ensemble du processus d'acquisition de données.

Acquisition de données rationalisée avec LabVIEW

Les défis techniques actuels exigent une intégration efficace du matériel et des logiciels, ce qui fait de LabVIEW une plate-forme privilégiée pour les applications de mesure, de test et de contrôle. Sa structure de programmation graphique et intuitive permet de développer rapidement des solutions de mesure personnalisées sans codage extensif ni gestion complexe des pilotes.

Avec LabVIEW, les utilisateurs peuvent

  • Intégrer divers matériels de mesure et capteurs dans un environnement cohérent.
  • Accédez facilement à des flux de données en temps réel et en mémoire tampon.
  • Créez des routines de test automatisées, des tableaux de bord interactifs et des systèmes complets d’enregistrement des données.
  • Bénéficiez d’une installation simple et d’une compatibilité avec de nombreuses plates-formes matérielles.

L’adoption généralisée de LabVIEW est due à sa facilité d’utilisation, à sa documentation complète, à ses exemples intégrés et à ses modèles conviviaux, qui le rendent accessible aux ingénieurs de tous niveaux de compétence.

Pour en savoir plus sur les dernières améliorations spécifiquement conçues pour rationaliser votre expérience d’intégration de LabVIEW, consultez notre récent blog mettant en avant les nouvelles fonctionnalités de GI DAQ Library V2.5.

More articles

Histoires de réussite

Navire historique, protection moderne

Le musée Vasa de Stockholm abrite Vasa, un navire de guerre suédois du XVIIe siècle sorti des fonds marins en 1961. Presque entièrement préservé, il est à la fois une icône culturelle et une plateforme de recherche à grande échelle pour l'architecture navale, la science des matériaux et l'archéologie maritime. Mais la conservation sur terre d'une coque en chêne vieille de 400 ans pose un problème structurel critique : sans flottabilité, le poids du navire est supporté par des points d'appui discrets, et une lente déformation a déjà été détectée. Pour protéger Vasa pour les générations futures, le musée remplace le berceau d'exposition d'origine par un système de support en acier réglable équipé d'une solution de surveillance des forces en temps réel et de contrôle de la santé structurelle (SHM) à long terme.

Read more...
Conseils et tendances

Appel à l’innovation avec le PDG Werner Ganahl de Gantner Instruments

Financement de l’État pour sept futurs projets numériques Les meilleurs projets d'innovation numérique du Vorarlberg ont été recherchés et financés. Sept projets reçoivent au total 130 000 euros de financement de l'État.

Read more...
Conseils et tendances

9 Aspects vitaux de l’intégration des systèmes de cellules de test à l’épreuve des balles

Vous n'avez pas besoin de concevoir un nouveau système DAQ à partir de zéro. Au lieu de cela, vous pouvez intégrer des concepts de test et de technologie plus avancés dans vos interfaces et systèmes existants - de manière durable et rentable !

Read more...
Conseils et tendances

Webinaire – Technologies essentielles de test et de mesure

Les ingénieurs sont confrontés à des défis très complexes lorsqu'il s'agit de choisir les systèmes d'acquisition de données robustes, évolutifs et à l'épreuve du temps les mieux adaptés à leur(s) application(s). Heureusement, trois experts de Gantner Instruments interviendront dans une série de webinaires organisés par notre partenaire canadien, Hoskin Scientific, pour faciliter le processus de sélection d'un système d'acquisition de données.

Read more...