Le jeudi 30 avril à 14h00, notre partenaire FLW Southeast organisera un webinaire de 30 minutes présenté par Joseph Daniels et Bernhard G. Gruber de Gantner Instruments. Tous deux couvriront les éléments clés que les ingénieurs doivent prendre en compte lorsqu’ils évaluent de nouveaux systèmes DAQ – du conditionnement du signal et de la distribution des E/S à la configuration multipartite, en passant par la surveillance en temps réel et les capacités de stockage dans le nuage. Joseph examinera également le nouveau système Q.series X de Gantner et la manière dont il peut relever ces défis, tout en positionnant les ingénieurs pour l’expansion future et les nouvelles technologies de mise en œuvre.

Événement
Principaux éléments à prendre en compte lors de la sélection d’un système d’acquisition de données pour une application de test
Webinaire
30 avril 2020
More articles
Démonstration de la Q.series à l’European Rotorcraft Forum
Du 5 au 8 septembre, Gantner a participé à la 42e édition du European Rotorcraft Forum. L'événement a eu lieu à Lille, en France.
Read more...Measurement Explorer – Simplifiez la gestion de vos données avec GI.bench
Les ingénieurs qui gèrent des configurations de test complexes connaissent la frustration que représente la recherche dans d'innombrables fichiers de données, canaux de capteurs et enregistrements historiques. Le nouvel explorateur de mesures de GI.bench s'attaque de front à ce problème, en rationalisant la gestion des données dans une interface utilisateur unifiée, intuitive et rapide.
Read more...Un pas de plus vers le voyage en train quasi-supersonique
Le train hyperloop sud-coréen atteint plus de 1 000 km/h lors de tests récents.
Read more...Trois étapes vers l’internet des objets (IdO) ou : D’où proviennent les big data analogiques ?
Le passage à la nouvelle ère de l'internet des objets (IoT), de l'industrie 4.0 ou de l'informatique en nuage se fait à un rythme impressionnant et est également irrésistible dans plusieurs applications industrielles. L'industrie, avec son énorme quantité de machines et de composants de taille, de valeur et de fonction diverses, est confrontée à un grand défi : les données de tous ces actifs doivent être collectées et analysées.
Read more...