Profitez de notre expertise en matière d’essais automobiles !
Chez Gantner Instruments, nous sommes à l’avant-garde de l’industrie des essais automobiles depuis plus de 30 ans et nous avons une mine d’idées et de connaissances à partager. Cliquez sur le lien vers notre blog pour en savoir plus sur notre parcours et nos perspectives sur le secteur. Ne manquez pas cette occasion de découvrir comment les solutions et l’expertise de Gantner Instruments peuvent vous aider à atteindre vos objectifs en matière de tests.
Interagissez avec nos innovations !
Vous recherchez un système d’acquisition de données compact et portable ou un système de mesure pour des milliers de canaux avec une synchronisation de haute précision ? Nous présenterons les trois éléments clés de notre solution de données sur notre stand à l’Automotive Testing Expo. Tous nos appareils seront opérationnels et vous pourrez interagir avec eux pour une meilleure expérience.
- Q.series X – Matériel pour l’acquisition des données
- Les modules d’acquisition de données de Gantner assurent un conditionnement précis des signaux pour de nombreux types de capteurs et prennent en charge les capteurs électriques conventionnels.
- GI.bench – Logiciel d’acquisition de données
- GI.bench est un environnement logiciel d’acquisition de données de pointe qui combine l’installation et la configuration du système, l’enregistrement et la surveillance de plusieurs flux de données dans une application de bureau facile à utiliser.
- GI.connectivité – Interfaces ouvertes et flexibles
- GI.connectivity fournit un échange de données sécurisé et fiable ainsi qu’une interopérabilité à travers de multiples interfaces de lecture/écriture au niveau du contrôleur, du PC et du nuage. GI.connectivity transforme votre système Q.series X en la plateforme d’acquisition et de streaming de données la plus ouverte et la plus flexible du marché.
Rendez-nous visite au stand 1434 ! Nous nous ferons un plaisir de trouver avec vous la solution idéale pour répondre à vos besoins. Nous sommes heureux de travailler avec vous pour trouver la solution d’acquisition de données idéale pour vos besoins !
Contact pour les rendez-vous
Bernhard Gruber
b.gruber@gantner-instruments.com
Bernhard et son équipe se réjouissent de vous rencontrer sur le stand. N’hésitez pas à nous contacter à l’avance.
More articles
GI.cloud – Plate-forme de données Edge Computing haute performance
L'avenir nous réserve des applications de surveillance et de contrôle plus distribuées et adaptatives, ce qui nécessite une utilisation meilleure et plus rapide des flux de données. L'acquisition de données fiables et distribuées est obligatoire, c'est pourquoi Gantner Instruments a développé GI.cloud.
Read more...Salon international des batteries de Chine 2024
Gantner Instruments au salon international des batteries de Chine au centre d'exposition international de Chongqing, du 27 au 29 avril 2024.
Read more...Exposition sur les essais automobiles en Inde 2025
Gantner Instruments India apporte des solutions de test et de mesure de nouvelle génération à l'Automotive Testing Expo India 2025, le principal salon professionnel indien pour le test des véhicules et des composants. Du 8 au 10 avril 2025, venez nous rendre visite au stand 4080, Chennai Trade Centre (halls 2 et 3), pour découvrir comment nos systèmes d'acquisition de données en temps réel et de haute précision peuvent vous aider à optimiser l'efficacité des essais, à réduire le temps de développement et à garantir la conformité réglementaire pour les technologies de groupes motopropulseurs électriques, hybrides et traditionnels.
Read more...Gantner Instruments présente de nouvelles routines d’apprentissage automatique et de détection des défaillances lors de la principale conférence sur le photovoltaïque et l’énergie à Bruxelles, en Belgique.
Dans le cadre du projet européen "IPERMON" ("Innovative Performance Monitoring System for Improved Reliability and Optimized Levelized Cost of Electricity"), Gantner Instruments a développé différentes routines de détection des défaillances et des méthodes de classification des défaillances pour les séries de données temporelles.
Read more...